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ノーベル賞応用技術 XTIAの「光コム測定」とJUKIの「画像検査」技術を融合した「ハイブリッド外観検査装置」個別受注を開始 2枚目の写真・画像
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ノーベル賞応用技術 XTIAの「光コム測定」とJUKIの「画像検査」技術を融合した「ハイブリッド外観検査装置」個別受注を開始
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